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1.
Uso de la técnica de fotorreflectancia en películas delgadas por En: Noos (nro. 17, Sep. 2003), p. 86-95S.T.:H(066) UNCOL PP4226
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2.
Medida del espesor de películas de ZnSe por la técnica de interferencia por En: Noos (nro. 17, Sep. 2003), p. 131-137S.T.:H(066) UNCOL PP4226
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