Detalles MARC
000 -Cabecera |
Campo de control de longitud fija |
16194nam a2200301 a 4500 |
003 - Identificador del Número de control |
Identificador del número de control |
AR-sfUTN |
008 - Códigos de información de longitud fija-Información general |
Códigos de información de longitud fija |
170717b ||||| |||| 00| 0 d |
020 ## - ISBN |
ISBN |
9686062882 |
040 ## - Fuente de la catalogación |
Centro transcriptor |
AR-sfUTN |
041 ## - Código de lengua |
Código de lengua del texto |
spa |
080 ## - CDU |
Clasificación Decimal Universal |
658.562 D912 |
Edición de la CDU |
2000 |
100 1# - Punto de acceso principal-Nombre de persona |
Nombre personal |
Duncan, Acheson J. |
245 10 - Mención de título |
Título |
Control de calidad y estadística industrial / |
Mención de responsabilidad |
Acheson J. Duncan. |
260 ## - Publicación, distribución, etc. (pie de imprenta) |
Lugar de publicación, distribución, etc. |
México: |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Alfaomega, |
Fecha de publicación, distribución, etc. |
1989 |
300 ## - Descripción física |
Extensión |
1084 p. |
336 ## - Tipo de contenido |
Fuente |
rdacontent |
Término de tipo de contenido |
texto |
Código de tipo de contenido |
txt |
337 ## - Tipo de medio |
Fuente |
rdamedia |
Nombre del tipo de medio |
sin mediación |
Código del tipo de medio |
n |
338 ## - Tipo de soporte |
Fuente |
rdacarrier |
Nombre del tipo de soporte |
volumen |
Código del tipo de soporte |
nc |
505 80 - Nota de contenido con formato |
Nota de contenido con formato |
CONTENIDO<br/>1. Introducción<br/>1. Repaso histórico 1<br/>2. Lo que puede hacer el control estadístico de calidad 9<br/>3. Consideraciones acerca de este libro 11<br/>4. Referencias seleccionadas 12<br/>Parte 1. FUNDAMENTOS<br/>2. Probabilidad 15<br/>1. Un viejo juego de azar 15<br/>2. Probabilidad 16<br/>3. Aleatoriedad 18<br/>4. ¿Cómo tomar una muestra al azar? 19<br/>5. ¿Cuándo está funcionando un Proceso en forma aleatoria? 22<br/>6. Probabilidades empíricas 24<br/>7. Predicción de las frecuencias relativas 25<br/>8. Dos teoremas importantes 25<br/>9. Teorema de Bayes 31<br/>10. Permutaciones y combinaciones 32<br/>11. Problemas 34<br/>12. Referencias seleccionadas 38<br/>3. Distribución por frecuencia de datos de muestras 39<br/>1. Tipos de datos 39<br/>2. Construcción de una distribución por frecuencias 40<br/>3. Características de una distribución por frecuencias 47<br/>4. Medición de las características de una distribución 47<br/>5. Análisis de datos exploratorio 63<br/>6. Problemas 70<br/>7. Referencias seleccionadas 76<br/>4. Distribución por frecuencias de un universo 77<br/>1. Distribuciones de universos finitos 77<br/>2. Distribución de los universos infinitos 78<br/>3. Fórmulas para las distribuciones de universos infinitos 79<br/>4. Distribuciones de frecuencia relativa como distribuciones de probabilidad 84<br/>5. Algunas distribuciones importantes de variables discretas 87<br/>6. Algunas distribuciones importantes de variables continuas93<br/>7. Algunas interrelaciones entre las diferentes distribuciones 96<br/>8. Desigualdad de Tchebychev 102<br/>9. Predicción de lo que hará un proceso 103<br/>10. Distribución de sumas y diferencias 104<br/>11. Distribuciones de productos y cocientes 106<br/>12. Problemas 109<br/>13. Referencias seleccionadas 116<br/>5. Distribución de muestreo de una Proporción o fracción 117<br/>1. Distribución de muestreo de una proporción o fracción 118<br/>2. Problemas 122<br/>3. Referencias seleccionadas 123<br/>6. Otras distribuciones importantes de muestreo 125<br/>1. Distribución por muestreo de una media aritmética 126<br/>2. Distribución por muestreo de una variancia y una desviación estándar 132<br/>3. Distribución por muestreo de la amplitud en una muestra pequeña de un universo normal 140<br/>4. Las muestras más grande y más pequeña como Límites de tolerancia para los valores individuales de un universo 142<br/>5. Un intervalo de predicción para un resultado de muestra futura dada una muestra actual 144<br/>6. Distribución por muestreo de la estadística 145<br/>7. Estadística especial basada en la amplitud 147<br/>8. Problemas 148<br/>9. Referencias seleccionadas 154<br/>Parte II. PROCESOS DE MUESTREO PARA ACEPTACION DE LOTES<br/>7. Muestreo de aceptación por atributos: Procesos de muestreo sencillo 157<br/>1. Muestreo de aceptación 157<br/>2. Fracción defectuosa en los Procesos de muestreo por atributos 159<br/>3. Procesos de muestreo de aceptación con muestra sencilla y defectos por unidad 174<br/>4. Preparación de lotes para inspección 175<br/>5. Problemas 176<br/>6. Referencias seleccionadas 178<br/>8. Muestreo de aceptación por atributos: Procesos de muestreo doble y secuencial por fracción defectuosa 179<br/>1. Procesos de muestreo doble 179<br/>2. Procesos de muestreo secuencial elemento por elemento 189<br/>3. Procesos secuencial en conjunto y de muestreo múltiple 194<br/>4. Problemas 195<br/>5. Referencias seleccionadas 197<br/>9. Muestreo de aceptación por atributos: Muestreo múltiple por fracción defectuosa 199<br/>1. Métodos para describir los Procesos de muestreo múltiple 199<br/>2. Cálculo de la curva CO para un Proceso de muestreo múltiple 200<br/>3. Cálculo de la curva ASN para un Proceso de muestreo múltiple 203<br/>4. Diseño de un Proceso de muestreo múltiple con p1, p2, alfa y beta y específicos 203<br/>5. Problemas 206<br/>6. Referencias seleccionadas 208<br/>10. Muestreo de aceptación por atributos: Normas Mil. Std. 105D del Departamento de la Defensa (E.U.A.) y ANSI/ASCC Std. ZI A e ISO Std. 2859 209<br/>1. Descripción de la norma Military Standard 105D 209<br/>2. Texto de Military Standard 105D 215<br/>3. Consideraciones sobre la Military Standard 10513 222<br/>4. Norma ANSI/ASQC ZL4-1981 243<br/>5. Norma ISO 2859, International organization for standarization 246<br/>6. Norma propuesta ANSI/ASQC para un programa de muestreo por atributos con salto de lote 246<br/>7. Problemas 247<br/>8. Referencias seleccionadas 248<br/>11. Muestreo de aceptación por variables para controlar la fracción defectuosa: Desviación estándar conocida 249<br/>1. Ventaja de los procesos de muestreo por variables 249<br/>2. Desventajas de los procesos de muestreo por variables 249<br/>3. Relación entre la media y la desviación estándar de un proceso o lote normalmente distribuido y su fracción defectuosa 251<br/>4. Procesos de muestreo por variables cuando los procesos o lotes están normalmente distribuidos y se conoce la desviación estándar 254<br/>5. Proceso especial por atributos como alternativa de un proceso por variables cuando es conocido 264<br/>6. Muestreo por variables con lotes no normales de forma conocida 265<br/>7. Problemas 266<br/>8. Referencias seleccionadas 268<br/>12. Muestreo de aceptación por variables para controlar la fracción defectuosa: Desviación estándar desconocida 269<br/>1. Deducción de un proceso por variables con p1, p2, a y b especificados 269<br/>2. Problemas 282<br/>3. Referencias seleccionadas 282<br/>13. Muestreo de aceptación por variables para controlar la fracción defectuosa: Norma Mil. -Std. 414 y otras normas relacionadas 283<br/>1. Descripción de la Military Standard 414 284<br/>2. Tablas de la norma 286<br/>3. Discusión de la norma Military Standard 414 294<br/>4. Desviaciones de la norma Mil. Std. 414 en las nuevas normas de variables: ANSI/ASQC ZIL9-1980 298<br/>5. Grado de conformidad de las nuevas normas de variables con las normas de atributos 301<br/>6. Consideración especial 305<br/>7. Problemas 305<br/>8. Referencias seleccionadas 306<br/>14. Temas especiales referentes al muestreo por lotes 307<br/>1. Identidad de las curvas CO 307<br/>2. Comparación de eficiencias 308<br/>3. Comparación de las características administrativas 310<br/>4. Un problema 330<br/>5. Referencias seleccionadas 332<br/>15. Muestreo de aceptación por variables para dar seguridad en relación con la media o desviación estándar de un proceso o lote 333<br/>1. Procesos de muestreo lote por lote para dar seguridad en relación con la calidad media de un material: procesos basados en la media de la muestra con desviación estándar conocida 334<br/>2. Procesos de muestreo lote por lote para dar seguridad en relación con la calidad media: desviación estándar del universo desconocida 347<br/>3. Procesos de muestreo lote por lote para dar seguridad en relación con la variabilidad de un proceso o lote 353<br/>4. Inspección severa (o estricta) y abreviada 356<br/>5. Problemas 357<br/>6. Referencias seleccionadas 360<br/>Parte III. INSPECCION RECTIFICADORA<br/>16. Inspección rectificadora para muestreo lote por lote 363<br/>1. Procesos de inspección rectificadora en los que se prevé la inspección al 100 por ciento de los lotes rechazados 364<br/>2. Procesos de inspección rectificadora con menos del 100 por ciento de inspección de los lotes rechazados 381<br/>3. Problemas 382<br/>4. Referencias seleccionadas 386<br/>17. Procedimientos de muestreo para producción continua 387<br/>1. Dificultades con los procedimientos (o procesos) lote por lote cuando la producción es continua 387<br/>2. Procedimientos de muestreo continuo para inspección por atributos 388<br/>3. Problemas 403<br/>4. Referencias seleccionadas 404<br/>Parte IV. DIAGRAMA DE CONTROL<br/>18. Teoría general de los diagramas de control 407<br/>1. Causas de la variación en calidad 407<br/>2. Teoría de los diagramas de control 408<br/>3. Límites de control 412<br/>4. Curva característica de operación para un diagrama de control 415<br/>5. Tamaño de la muestra y frecuencia del muestreo para control actual 417<br/>6. Sub agrupamiento 417<br/>7. Teoría de las tandas o corridas en los datos aleatorios 418<br/>8. Resumen de los criterios de fuera de control 424<br/>9. Problemas 425<br/>10. Referencias seleccionadas 425<br/>19. Diagramas de control para fracción defectuosa (diagrama p) 427<br/>1. Trazado de un diagrama p, con n constante 427<br/>2. Operación y revisión del diagrama p 431<br/>3. Diagramas p con n variable 435<br/>4. La curva CO para un diagrama p utilizado para controlar la producción en curso 438<br/>5. La curva ARL para un diagrama p de un sólo límite empleado para controlar la producción en curso 439<br/>6. Tamaño de la muestra y frecuencia del muestreo para control en curso 441<br/>7. La función CO para un diagrama p utilizado para analizar datos anteriores 444<br/>8. Diagramas p y pruebas X2 445<br/>9. Problemas 446<br/>10. Referencias seleccionadas 450<br/>20. Diagrama de control para el número de defectos por unidad (Diagramas c y Diagramas u) 451<br/>1. Ejemplos del uso 451<br/>2. Distribución de muestreo, del número de defectos por unidad 451<br/>3. Construcción y operación de un diagrama c con una muestra de tamaño constante 453<br/>4. La curva CO para un diagrama c con un tamaño constante de muestra 456<br/>5. La curva ARL para un diagrama c de un sólo límite con muestra de tamaño constante para controlar producción en curso 456<br/>6. Determinación del tamaño de la muestra a los fines de un control en curso 459<br/>7. Diagramas u 460<br/>8. Diagrama u con muestra de tamaño variable 460<br/>9. Diagramas c, diagramas u y pruebas X2 462<br/>10. Problemas 463<br/>11. Referencias seleccionadas 465<br/>21. Diagramas de control de variables 467<br/>1. Diagramas X 468<br/>2. Diagramas R 468<br/>3. Construcción y operación de diagramas X y R 470<br/>4. Diagramas suplementarios de elementos individuales 476<br/>5. Características operativas de los diagramas X y R 478<br/>6. Curvas ARL para diagramas X y R usados para controlar producción en curso 482<br/>7. Trazado de diagramas X y R para el control actual 486<br/>8. Diagramas X y R contra diagramas p 489<br/>9. Diagramas de control para elementos individuales 491<br/>10. Otros diagramas de control de variables 493<br/>11. Alternativas al análisis de los diagramas de control de variables 495<br/>12. Estudios de capacidad del proceso 495<br/>13. Problemas 497<br/>14. Referencias seleccionadas 502<br/>22. Diagramas de control de sumas acumulativas (CUSUM) 503<br/>1. La ventaja de marcar las sumas acumulativas 503<br/>2. Un procedimiento unilateral para decisión 503<br/>3. Un procedimiento bilateral para decisión 508<br/>4. Diseño de un diagrama Cusum y mascarilla en V 513<br/>5. Comparación de los diagramas Cusum y Shewhart 516<br/>6. Otros diagramas Cusum 519<br/>7. Formas especiales de mascarillas Cusum y otros métodos Cusum más especializados 519<br/>8. Problemas 523<br/>9. Referencias seleccionadas 525<br/>23. Procesos y procedimientos especiales 527<br/>1. Diagramas de control de aceptación 527<br/>2. Diagramas de control de diferencias 531<br/>3. El método LOT PLOT 532<br/>4. Papel de probabilidad binomial (BIPP) 539<br/>5. Diagramas de promedio móvil y de amplitud móvil 541<br/>6. Problemas 542<br/>7. Referencias seleccionadas 544<br/>Parte V. ALGUNAS ESTADISTICAS UTILES EN LA INVESTIGACION INDUSTRIAL<br/>24. Estimación de las características de un lote o proceso 545<br/>1. Estimación del punto 547<br/>2. Intervalos de confianza 552<br/>3. Problemas 566<br/>4. Referencias seleccionadas 569<br/>25. Pruebas de hipótesis relacionadas con las proporciones, medias y variancias 571<br/>1. Teoría de la comprobación de hipótesis 571<br/>2. Pruebas de hipótesis correspondientes a una fracción defectuosa 572<br/>3. Pruebas de hipótesis correspondientes a la media del universo 576<br/>4. Pruebas de hipótesis correspondientes a la variancia o desviación estándar 581<br/>5. Seguir pasos para la comprobación de las hipótesis 583<br/>6. Determinación del tamaño de la muestra 584<br/>7. Una cuestión de lógica 588<br/>8. Problemas 588<br/>9. Referencias seleccionadas 592<br/>26. Pruebas correspondientes a la diferencia entre dos proporciones medias o variancias 593<br/>1. Pruebas correspondientes a la diferencia entre dos proporciones 593<br/>2. Pruebas correspondientes a la diferencia entre dos medias 596<br/>3. Pruebas correspondientes a la relación de dos variancias 607<br/>4. Problemas 616<br/>5. Referencias seleccionadas 618<br/>27. Pruebas de normalidad 619<br/>1. Métodos gráficos 619<br/>2. Las pruebas XI de adecuación de ajuste 619<br/>3. Uso de las medidas de asimetría y curtosís 622<br/>4. Problemas 628<br/>5. Referencias seleccionadas 629<br/>28. Tablas de contingencia y pruebas x2 631<br/>1. Tablas 2 x 2 631<br/>2. Tablas r x c 635<br/>3. Pruebas de homogeneidad en un conjunto de porcentajes 637<br/>4. Comparación de defectos por unidad y otras variables de Poisson 639<br/>5. Las características de operación de las pruebas XI 641<br/>6. Problemas 644<br/>7. Referencias seleccionadas 646<br/>29. Análisis de variancia-1 647<br/>1. Análisis de variancia para una clasificación unidireccional 647<br/>2. Análisis de la variancia para una clasificación bidireccional con un solo caso en cada clase 668<br/>3. Problemas 676<br/>4. Referencias seleccionadas 680<br/>30. Análisis de variancia-II 681<br/>1. Clasificación bidireccional con más de un caso, pero con igual número de ellos en cada clase 681<br/>2. Análisis de la variancia con una clasificación tridireccional, con un solo caso en cada clase 698<br/>3. Clasificaciones anidadas 709<br/>4. Supuestos que fundamentan el análisis de variancia 713<br/>5. Análisis de variancia versus los diagramas X y R 715<br/>6. Problemas 717<br/>7. Referencias seleccionadas 724<br/>31. Análisis suplementarios y asociados con el análisis de variancia 725<br/>1. Análisis adicionales correspondientes a las medias 739<br/>2. Pruebas de homogeneidad de variancias 741<br/>3. Análisis de los componentes de la variancia 759<br/>4. Estimación de la precisión de los instrumentos de medición y de la variabilidad del producto 759<br/>5. Pruebas de homogeneidad general 763<br/>6. Problemas 767<br/>7. Referencias seleccionadas 771<br/>32. Regresión y correlación: Dos variables 773<br/>1. Distribuciones bivariadas de frecuencias 774<br/>2. Características importantes de las distribuciones bivariadas de frecuencias y sus mediciones 777<br/>3. Estimación de la regresión de un universo y el error estándar de la estimación a partir de datos de muestra 780<br/>4. Ejemplo de datos no agrupados 784<br/>5. Ejemplo de datos agrupados 786<br/>6. Uso de la línea de regresión y del error estándar de estimación al efectuar estimaciones 787<br/>7. Errores del muestreo cuando el origen se encuentra en X, 790<br/>8. El coeficiente de correlación 795<br/>9. Problemas 799<br/>10. Referencias seleccionadas 803<br/>33. Regresión y correlación: Tres y más variables 805<br/>1. Regresiones trivariadas 805<br/>2. Regresiones que afectan a más de tres variables 826<br/>3. Regresiones no lineales 832<br/>4. Problemas 841<br/>5. Referencias selecionadas 846<br/>34. Análisis de covariancia 847<br/>1. Usos del análisis de covariancia 847<br/>2. Cómo contrarrestar los efectos dañinos mediante el análisis de covariancia 848<br/>3. Comparación de las pendientes de líneas de regresión 861<br/>4. Problemas 875<br/>5. Referencias seleccionadas 878<br/>35. Diseño de experimentos-I 879<br/>1. Diseño de un experimento para analizar los efectos de un solo factor 879<br/>2. Diseño de un experimento para el análisis de los efectos de varios factores 887<br/>3. Problemas 891<br/>4. Referencias seleccionadas 892<br/>36. Diseño de experimentos-II 893<br/>1. La confusión en los experimentos factoriales 893<br/>2. Repetición fraccional 902<br/>3. Problemas 907<br/>4. Referencias seleccionadas 908 |
650 ## - Punto de acceso adicional de materia - Término de materia |
Término de materia |
CONTROL DE CALIDAD |
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CALIDAD-CONTROL |
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ESTADISTICA INDUSTRIAL |
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INSPECCION RECTIFICADORA |
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DIAGRAMAS DE CONTROL |
650 ## - Punto de acceso adicional de materia - Término de materia |
Término de materia |
MUESTREO POR LOTES |
942 ## - ADDED ENTRY ELEMENTS (KOHA) |
Tipo de ítem Koha |
Libro |
Esquema de clasificación |
Clasificación Decinal Universal |