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Vargas-Hernández, Carlos

Medida del espesor de películas de ZnSe por la técnica de interferencia

En el trabajo se presentan la técnica experimental y los fundamentos teóricos para obtener el espesor de las películas de ZnSe crecidas sobre substratos de GaAs formando lo que se denomina una heteroestructura.

Subjects--Topical Terms:
PELICULAS DE ZNSE
TECNICA DE INTERFERENCIA

Universal Decimal Class. No.: H(066) UNCOL