000			01129nab a22002537 4500
001			H(066) UNCOL
003			AR-sfUTN
008			190909b xx |||p|r|||| 00| 0 spa d
040			_cAR-sfUTN
080			_aH(066) UNCOL
100			_aVargas-Hernández, Carlos
700			_aJurado, Jesús Fabián
245			_aUso de la técnica de fotorreflectancia en películas delgadas
336			_2rdacontent _atexto _btxt
337			_2rdamedia _asin mediación _bn
338			_2rdacarrier _avolumen _bnc
505			_aLa fotorreflectancia es una técnica de modulación usada ampliamente para el estudio de la estructura electrónica de semiconductores. Se pueden determinar los puntos críticos en la estructura electrónica de bandas del material, entre los que se encuentra la brecha prohibidad Eg, así como los campos eléctricos en la interfaz y en la superficie del material.
650			_aPELICULAS DELGADAS
650			_aESPECTROSCOPIA DE REFLECTANCIA
650			_aFOTORREFLECTANCIA
773			_tNoos _wH(066) UNCOL _nS.T.:H(066) UNCOL PP4226 _g(nro. 17, Sep. 2003), p. 86-95
942			_cAN
999			_c42831 _d42831