Desempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados

En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de
especificaciones. Con este propósito se adopta una vista a nivel comportamiento, definiendo una falla como un incumplimiento de alguna de las especificaciones. Si bien esta estrategia de test ha sido estudiada por varios autores, este trabajo se enfoca en la utilización de modelos de simulación más precisos que evitan hacer suposiciones de comportamientos ideales. Para las evaluaciones se ha adoptado un filtro de segundo orden en la topología de variables de estados, el cual ha sido diseñado totalmente a medida (full custom) en una tecnología comercial CMOS de 500 nm. Se adopta una metodología de evaluación que inyecta desviaciones aleatorias en los parámetros circuitales como un medio para generar una población de circuitos con diferentes proporciones de buenos y malos. Esta población se expone posteriormente al test para evaluar su eficiencia.