TY  - BOOK
AU  - Gillich,Helmut
TI  - Medición de dispositivos semiconductores / 
T2  - Circuitos T ; 
PY  - 1979///
CY  - Buenos Aires
PB  - Kapelusz
KW  - SEMICONDUCTORES
KW  - MEDICIONES ELECTRICAS
KW  - INSTRUMENTOS ELECTRICOS
KW  - DISPOSITIVOS FOTOELECTRONICOS
ER  -