Uso de la técnica de fotorreflectancia en películas delgadas (Registro nro. 42831)
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| 000 -Cabecera | |
|---|---|
| Campo de control de longitud fija | 01129nab a22002537 4500 |
| 001 - Número de control | |
| Número de control | H(066) UNCOL |
| 003 - Identificador del Número de control | |
| Identificador del número de control | AR-sfUTN |
| 008 - Códigos de información de longitud fija-Información general | |
| Códigos de información de longitud fija | 190909b xx |||p|r|||| 00| 0 spa d |
| 040 ## - Fuente de la catalogación | |
| Centro transcriptor | AR-sfUTN |
| 080 ## - CDU | |
| Clasificación Decimal Universal | H(066) UNCOL |
| 100 ## - Punto de acceso principal-Nombre de persona | |
| Nombre personal | Vargas-Hernández, Carlos |
| 245 ## - Mención de título | |
| Título | Uso de la técnica de fotorreflectancia en películas delgadas |
| 336 ## - Tipo de contenido | |
| Fuente | rdacontent |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| 337 ## - Tipo de medio | |
| Fuente | rdamedia |
| Nombre del tipo de medio | sin mediación |
| Código del tipo de medio | n |
| 338 ## - Tipo de soporte | |
| Fuente | rdacarrier |
| Nombre del tipo de soporte | volumen |
| Código del tipo de soporte | nc |
| 505 ## - Nota de contenido con formato | |
| Nota de contenido con formato | La fotorreflectancia es una técnica de modulación usada ampliamente para el estudio de la estructura electrónica de semiconductores. Se pueden determinar los puntos críticos en la estructura electrónica de bandas del material, entre los que se encuentra la brecha prohibidad Eg, así como los campos eléctricos en la interfaz y en la superficie del material. |
| 650 ## - Punto de acceso adicional de materia - Término de materia | |
| Término de materia | PELICULAS DELGADAS |
| 650 ## - Punto de acceso adicional de materia - Término de materia | |
| Término de materia | ESPECTROSCOPIA DE REFLECTANCIA |
| 650 ## - Punto de acceso adicional de materia - Término de materia | |
| Término de materia | FOTORREFLECTANCIA |
| 700 ## - Punto de acceso adicional - Nombre de persona | |
| Nombre personal | Jurado, Jesús Fabián |
| 773 ## - Enlace al documento fuente | |
| Título | Noos |
| Número de control del registro relacionado | H(066) UNCOL |
| Nota | S.T.:H(066) UNCOL PP4226 |
| Parte(s) relacionada(s) | (nro. 17, Sep. 2003), p. 86-95 |
| 942 ## - ADDED ENTRY ELEMENTS (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Registros analíticos |
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